Новый метод позволяет наблюдать за работой микросхем без их разборки, отключения и физического контакта. Технология использует терагерцовые волны и фиксирует движение электрических зарядов внутри запечатанных полупроводниковых устройств в реальном времени, говорится в исследовании.
Метод разработала группа исследователей с участием Университета Аделаиды (Австралия), а также научных организаций и компаний из США и Германии.
Авторы отмечают, что существующие способы диагностики требуют вскрытия чипа, подключения зондов или остановки устройства. Новый подход уже проверили на распространенных электронных компонентах, включая диоды и транзисторы. Технологию можно применять в промышленности, энергетике и сфере безопасности, где важно контролировать состояние электроники без вмешательства в ее работу.
